雙折射測量系統-上海昊量光電設備有限公司

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定量雙折射成像系統
CRI的Abrio成像系統提供了一種*的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統方法繁瑣且耗時。Abrio技術通過自動化定量極化顯微鏡的過程，打開了雙折射成像世界的大門，允許你精確地計算出每一個像素在幾秒內的延遲幅度和方向，定量雙折射成像系統

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