<綜合電子測量分析儀(十二功能合一)-上海昊量光電設備有限公司

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      綜合電子測量分析儀(十二功能合一)

      簡要描述:綜合電子測量分析儀(十二功能合一)可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下,同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發生器,能夠產生高達250 MHz的正弦波。

      • 產品型號:
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2021-08-14
      • 訪  問  量:951
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      應用領域環保,化工,能源

      澳大利亞 Liquid Instruments公司Moku:Lab綜合電子測量分析儀,是一款功能強大的綜合電子測量分析終端。集成成示波器、頻譜分析儀、波形發生器、相位表、數據記錄器、鎖相放大器、PID控制器、頻率響應分析儀、數字濾波器、任意波形發生器、FIR濾波器?成器和激光鎖頻/穩頻??個專業儀器于?臺設備。適?于信號采集、處理分析、控制系統等應用。僅需通過軟件操控多儀器間功能切換,硬件便可以快速重新配置并執?的儀器功能。同時我們在不斷增強當前儀器功能,客戶無需增加成本即可獲得更多強大功能及豐富的用戶體驗?;诳伸`活配置擴展硬件平臺與直觀測量和控制軟件,將FPGA(現場可編程?陣列,半定制電路)的強大數字信號處理能力和?速模擬輸入和輸出端結合,為實驗?作、科研、?產帶來全新的靈活性和流暢性。


      綜合電子測量分析儀(十二功能合一)可視化操作界面
      iPad—Moku引以為豪的觸控操作界?,通過直觀統?的iPad界?實現?線配置和操控您的儀器。節省學習儀器操作時間,將精力投入到實驗的理解及結果分析。


      綜合電子測量分析儀(十二功能合一)多種連接方案
      Python, LabVIEW, MATLAB—PC端使?

      免費下載升級Moku:Lab App


      產品特點
      節省工作臺空間、優化實驗環境

      可遠程控制,滿足嚴格實驗環境要求

      小巧輕便、隨時隨地戶外?作

      Moku:lab概要

      兩個模擬輸?通道

      • 采樣率:500 MS/s

      • ADC分辨率:12位

      • 帶寬(-3 dB, 50 Ω):200 MHz 

      • 阻抗:50Ω/1MΩ 

      • 耦合:AC / DC

      • 1 Vpp / 10 Vpp


      兩個模擬輸出通道

      • 采樣率:1 GS/s

      • DAC分辨率:16位

      • 帶寬(-3dB)>300 MHz 

      • 阻抗:50 Ω

      • DC耦合


      時鐘&觸發

      • 超穩定振蕩器 (精度優于<500 ppb)

      • 參考輸?:10 MHz 

      • 參考輸出:10 MHz 

      • 外部觸發輸? (TTL)


      連接&存儲

      • Wi-Fi、以太?和 USB
      • Python, MATLAB, LabVIEW 和iPad

      • 存儲數據到 Dropbox

      • 內置8 GB SD 卡


      Moku:Lab集成成示波器、頻譜分析儀、波形發生器、相位表、數據記錄器、鎖相放大器、PID控制器、頻率響應分析儀、數字濾波器、任意波形發生器、FIR濾波器?成器和激光鎖頻/穩頻,??個專業儀器于?臺設備。

      1. 鎖相放大器
      Moku:Lab的鎖定放大器可用于檢測被噪聲掩蓋的小型振蕩信號。簡潔的用戶界面允許用戶使用整個框圖中的探測點精確配置系統并監視其性能。


      簡要指標

      • 輸入電壓范圍±5V

      • 輸入噪聲在100kHz以上時為30 nV/√Hz

      • 移相精度0.001o

      • 動態存儲大于80dB

      • 頻率分辨率3.55 µHz

      • 頻率范圍1 mHz至200MHz


      2. 任意波形發生器

      Moku:Lab的任意波形發生器可以生成自定義波形,其采樣率zui高為1GS/s,zui高可達65,000點。波形可以從文件中加載,也可以作為zui多32個分段函數輸入。在脈沖模式下,輸出波形時脈沖之間的停滯時間超過250,000個周期。


      簡要指標

      • 雙通道

      • 帶寬(-3 dB)> 300 MHz至50Ω

      • 每通道采樣率1 GS / s

      • 幅度分辨率100 µV

      • DC范圍1 mVpp至2 Vpp至50Ω

      • zui小邊沿時間2ns

      • 相位分辨率0.001o

      • 波形正弦,高斯,指數下降,正弦,方程,自定義(來自文件)


      3. PID控制器

      Moku:Lab的PID控制器使用戶能夠設計和部署用于溫度穩定和激光頻率控制等廣泛應用的控制系統。


      簡要指標

      • 雙通道

      • 輸入/輸出失調范圍±1V

      • 輸入耦合AC/DC

      • 失調精度100µV

      • 輸入電壓范圍±0.5V到50Ω,衰減0 dB

      • zui大帶寬100 kHz,相位延遲30°



      4. 頻率響應分析儀

      Moku:Lab的頻率響應分析儀可用于從10 mHz到120MHz的正弦掃頻輸出來測量功能。表征系統的頻率響應。系統的頻率響應由幅頻特性和相頻特性組成。


      簡要指標

      • 正弦波掃描

      • 線性或對數正弦掃頻輸出

      • 頻率范圍10 mHz至120 MHz

      • 頻率分辨率3.55 µHz

      • 輸出幅值范圍±0.5 mV至±1 V到50Ω

      • 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω,衰減0 dB


      5. 激光穩頻/鎖頻

      激光鎖定系統被廣泛用于控制激光頻率并將其與光學參考頻率(例如光學參考腔或原子躍遷)匹配。這樣的系統對于高分辨率干涉測量,光譜學以及時間和頻率標準至關重要。Moku:Lab可讓您使用高性能的調制鎖定技術將激光器的頻率穩定到參考腔或原子躍遷。該功能,使您能夠快速鎖定解調錯誤信號上的任何零交叉。


      簡要指標

      • 生成高達200 MHz的調制信號

      • 頻率范圍DC至200 MHz

      • 相位偏移分辨率0.001o

      • PLL頻率范圍2 MHz至200 MHz


      6. 相位計

      Moku:Lab的相位計可測量zui多兩個輸入信號的相位,在1kHz至200MHz范圍內的精度超過6微弧度。 Moku:Lab的相位計基于數字實現的鎖相環架構,可提供出色的動態范圍,零死區時間和測量精度,超過了傳統鎖相放大器和頻率計數器的性能。


      簡要指標

      • 同時測量輸入信號的相位,頻率和幅度

      • 以高達125 kSa/s的速度采集數據

      • 輸入頻率范圍1 kHz至200 MHz

      • 輸入電壓范圍±0.5V至50Ω     


      7. 數字濾波器

      借助Moku:Lab的數字濾波器,可以交互式設計并生成不同類型的無限沖激響應濾波器,其輸出采樣率為122 kHz和15.625MHz。在低通、高通、帶通和帶阻濾波器形狀之間進行選擇,zui多可以選擇7種*可配置的類型,包括Butterworth,Chebyshev和Elliptical。


      簡要指標

      • 使用交互式波特圖設計IIR濾波器

      • 使用探測點觀察數字信號處理鏈中不同階段的信號

      • 查看濾波器的幅度和相位頻率響應

      • 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω,衰減0 dB

      • 輸入控制矩陣系數-20至+20

      • 輸入阻抗50Ω/1MΩ

      • 輸入耦合AC/DC

      • 輸入衰減0 dB/20 dB

      • 輸入電壓范圍±0.5V到50Ω,衰減0dB   


      8. 波形發生器

      Moku:Lab的波形發生器使用戶能夠生成兩個獨立的波形,采樣率為1 GSa/s,zui大頻率為250MHz,輸出電壓范圍為±1V至50Ω。在正弦波、方波、鋸齒波、脈沖或直流波形形狀之間進行選擇。調制相位,頻率或幅度,或從內部或外部源生成觸發的脈沖串或掃描。


      簡要指標

      • 生成從1 mHz到250 MHz的正弦波

      • 生成從1 mHz到100 MHz的方波和斜波

      • 在高達100 MHz的頻率下產生zui小脈沖寬度為10 ns的脈沖波形

      • 使用內部和外部信號源在高達62.5 MHz的頻率下調制幅度,頻率和相位的波形

      • 每通道采樣率1 GSa/s

      • 帶寬(-3 dB)300 MHz至50Ω

      • 波形正弦波、方波、鋸齒波、脈沖、直流

      • 范圍從1 mVpp到2 Vpp到50Ω

      • 分辨率100 µV

      • 通道隔離度> 40 dB(從DC到200 MHz)


      9. 數據記錄器

      Moku:Lab的數據記錄器可以將數據直接記錄到SD卡中,以進行高達100 kSa/s的速率的長期測量,而持續時間僅受SD卡容量的限制。通過直接保存到Moku:Lab的內部存儲器中,數據也可以高達1MSa/s的速度獲取。測量完成后,可以將保存到Moku:Lab內部存儲器的數據上傳到云中進行分析。


      簡要指標

      • 以zui高100 kSa/s的速度記錄兩個數據通道到SD卡,以1 MSa/s的速度記錄到內部存儲

      • 輕松將記錄的數據上傳到云中進行分析

      • 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω(0 dB衰減)±5 V輸入50Ω,衰減20 dB


      10. FIR濾波器生成器

      借助Moku:Lab的FIR濾波器生成器,可以設計和實現低通、高通、帶通和帶阻有限沖激響應(FIR)濾波器,這些濾波器具有高達14819的系數,采樣率為244.1 kHz。Moku:Lab的iPad接口可讓您在頻域和時域中微調濾波器的響應,以適合您的特定應用。在四個頻率響應形狀,五個常見的脈沖響應以及多達八個窗口函數之間選擇。


      簡要指標

      • 使用常見的脈沖響應和窗口函數在時域或頻域中設計濾波器

      • 上傳自己的濾波器系數,或使用方程式編輯器以數學方式定義自己的自定義脈沖響應

      • 查看濾波器的傳遞函數,脈沖和階躍響應或組和相位延遲

      • 只需按一下按鈕,即可將測量數據保存到SD卡或云端

      • 采樣率122.1kHz,244.1kHz,488.3kHz,976.6 kHz,1.953MHz,3.906MHz,7.813MHz,15.63MHz

      • 頻率響應低通,高通,帶通,帶阻

      • 脈沖響應矩形,正弦,三角,高斯,方程,自定義

      • 濾波器窗:巴特利特,漢寧,漢明,布萊克曼,納塔爾,圖基,凱撒


      11. 示波器

      Moku:Lab的示波器具有兩個500 MS/s模擬輸入通道,具有200 MHz模擬帶寬,10 Vpp輸入電壓范圍以及用戶可配置的AC/DC耦合和50Ω/1MΩ阻抗。示波器還具有兩個集成的波形發生器,能夠產生高達250 MHz的正弦波以及高達100MHz的方波,鋸齒波和三角波,從而能夠激發系統并同時測量其響應。


      簡要指標

      • 分析兩個電壓通道,垂直范圍為±5伏,模擬帶寬為200 MHz,zui大采樣率為500 MSa / s

      • 在精確模式下測量數據以通過抑制噪聲來提高測量分辨率

      • 合成正弦波、方波、鋸齒波、脈沖和直流波形

      • 輸入帶寬(-3 dB)> 200 MHz至50Ω

      • zui大采樣率500 MSa/s


      12. 頻譜分析儀

      Moku:Lab的頻譜分析儀可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下,同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發生器,能夠產生高達250 MHz的正弦波。


      簡要指標

      • 直流至250 MHz頻率范圍

      • 1 kHz至250 MHz頻率范圍

      • 窗函數: None (uniform), Hanning, Flat Top, Blackman-Harris

      • 正弦波掃描

      • 輸出頻率范圍1 mHz至250 MHz

      • 掃描模式以固定的頻率掃描電流范圍內的輸出頻率,掃描周期為5秒


      應用案例

      • 太赫茲時域光譜、時域熱反射測量(TDTR)          

      • 氣體諧波測量實驗

      • 激光器穩頻/鎖頻實驗                            

      • 原子物理實驗

      • 飛秒脈沖受激拉曼損耗顯微成像                

      • 微弱信號測量    

      • 光聲粘彈性成像測量                             

      • 光聲光譜測量

      • 光電實驗信號的分析和測量                       

      • 電子工程類實驗

      • 邁克爾遜干涉實驗                               

      • RC、RL電路實驗

      • 對有用信號與噪聲信號分離的數字濾波器實驗       

      • 光速的測量

      • 系統輸出信號的相位差測量以及幅值、頻率的同時測量

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