<全功能X射線顯微鏡XROS MF30-上海昊量光電設備有限公司

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      全功能X射線顯微鏡

      簡要描述:研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

      • 產品型號:XROS MF30
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2021-06-21
      • 訪  問  量:1055
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       全功能X射線顯微鏡

      研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

       

      全功能X射線顯微鏡特點:

      微焦點X射線管

      用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

      一組基本的輻射濾波器

      攝像機用于選擇分析區域

      用于分析區域調查的光學數碼顯微鏡

      光學顯微鏡軸線與x射線探針軸線相結合

      工作距離的自動選擇系統

      自動X、Y坐標取樣臺,用于分析區域的定位和掃描

      分析單元沿Z軸的自動移動

      射線檢查用探測器

      用于局部XRF分析的硅漂移檢測器

      用于分析輕元素的真空測量室

      內置的自動X光管水冷卻系統

       

       

      軟件:

      • 高壓發生器

      • 采樣和波束定位

      • 真空

       

      局部元素分析與元素填圖

      • 用一個經認證的樣品進行校正

      • 一個校準曲線與幾個認證的樣品

      • 特征線能量和強度的測定

      • 定性半定量分析(基本參數法)

      • 從光譜庫中尋找類似物進行光譜比較

      • 用戶定義樣例區域的元素映射mapping

      • 光譜和映射結果存儲到數據文件

      • 對存儲的光譜進行比較,減法,歸一化

      • 在光學和射線圖像上疊加光譜映射圖像結果

      • 自動分析在用戶定義的點的樣本

       

      X射線攝影

      • 數字亮度和對比度控制

      • 縮放

      • 測量圖像點間的距離

       

      記錄和數據存儲
      • 在數據庫中存儲圖像

      • 保存測量結果并導出到其他Windows程序

      • 數字化圖像記錄到外部媒體

      • 圖像和協議打印

      1.  一組可更換輻射濾光片(12個)

      2. X射線管

      3. 內置水冷系統

      4. 硅漂移探測器

      5. 回看攝像機

      6. 光學顯微鏡軸與微探針軸結合(銳度自動調節)

      7. 光學顯微鏡(手動調整銳度)

      8. 樣品臺(XY位移,精度10um)

      束源

      微焦點X射線管: 
      • X射線管zui大電壓

      45 kV
      • X射線管zui大功率

      500 W
      • 陽極材料

      Mo, other by request

      用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

      • X射線光束直徑

       

      30 - 1 000 μm

      一組基本的光束濾波器

      Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl

       

      光學研究

      光學數字顯微鏡:

      • 大變焦

       

      200х

       

      樣品定位和mapping

      用攝像機選擇分析區域

      光學顯微鏡結合X射線探頭的軸線來控制分析區域

      樣品和探針移動系統: 
      • 工作距離自動選擇系統

      • 分析單元沿Z軸移動

      Z軸定位精度12 μm
      • 一個自動階段的XY對象定位和掃描在一個用戶定義的樣本區域XY定位精度


      10 μm
      • zui大掃描區域

      150x150 mm
      • zui大樣品尺寸

      300х210х100 mm
      • zui大樣品重量

      1 kg

       

      X射線熒光分析

      局部元素分析用能量色散半導體探測器

      • 硅漂移探測器 (SDD)

       
      • 在Mn線上的探測器的能量分辨率

      <150 eV
      • 光譜范圍

      1 - 40 keV
      • zui大計數率

      1 000 000 cps
      • 濃度范圍

      from 1 ppm to 100%

       

       X射線攝影
       用于射線照相研究的通過樣本輻射傳輸的點探測器(可選ccd探測器)

       

      分析單元

      電源 

      230 V, 50 Hz

      Size (W x D x H)

      615 x 665 x 650 mm

      Weight

      85 kg

       

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