<超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統-上海昊量光電設備有限公司

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      超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統

      簡要描述:超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統主要功能:
      顯微拉曼,拉曼成像
      偏振拉曼
      低波束拉曼
      原位測試
      可拓展為EL/PL/光電流成像/熒光壽命成像

      • 產品型號:
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2021-06-02
      • 訪  問  量:1073
      詳細介紹
      品牌其他品牌產地類別進口
      應用領域醫療衛生,環保,生物產業,農業

      高靈敏度共焦拉曼成像系統!
      高分辨率!出色的重復性!

      *的振鏡掃描技術,平臺不動,更有利于偏振拉曼及原位測試
      使用全息透射光柵,光透過率高!
      可擴展為PL/EL/偏振拉曼/光電流成像系統/熒光壽命成像系統

      低波束拉曼系統

      空間光接口&光纖接口適于客戶現有激光器接入

      200µm x 200µm 圖像快速掃描 & 2D Mapping!

      高性價比!

       XperRam S共聚焦拉曼成像系統

      韓國Nanobase公司專業生產高性價比共聚焦激光拉曼成像系統,為科學和工業領域提供高性價比解決方案。 韓國NANOBASE公司 XperRam S共聚焦激光拉曼光譜成像系統功能強大,選項完備,操作簡單,便于維護。XperRam200共聚焦拉曼成像光譜儀系統使用戶可以提供各種可擴展功能,并可為客戶提供量身定制的可定制化的服務。

       

      超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統主要功能:
      顯微拉曼,拉曼成像
      偏振拉曼

      低波束拉曼

      原位測試

      可拓展為EL/PL/光電流成像/熒光壽命成像

       

      超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統性能優勢:

      激光掃描:
      - 優越的分辨率 & 重復性
      resolution < 0.02 um & repeatability < 0.1 μm.
      - 大面積拉曼成像范圍
      scan area exceeding 200 x 200 μm (40X, NA=0.75物鏡)
      - 接近衍射極限的光斑,覆蓋掃描區域

      -平臺不動,更有利于偏振拉曼及原位測量


      *的透射式體相位全息光柵技術
      -    同類產品中高的衍射效率,高光透過率
      -    偏振相關性小

      平均模式
      - 高速平均模式
      4秒內能獲得200 x 200 µm區域的某一拉曼光譜
      - ccd 讀出噪聲影響,
      CCD在激光掃描同時獲取拉曼光譜,能很大程度減少傳統2D拉曼mapping方法中無法避免的讀出噪聲的影響
      - 快速定量分析
      能有效的快速分析載玻片中薄膜樣品或納米微粒

      模塊化設計(可選項)
      - 光纖耦合激光器端口和空間光端口
      - 針對多種波長的嵌入式濾波器
      - 起偏器
      - 低波數拉曼濾波器選項(低至10 cm-1)
      - NIR近紅外選項 (700 ~ 1000 nm)

       

      主要技術參數

      -532n m, up to 100mW DPSS laser

      (其它的激光器 如405nm,633nm,785nm可選 )

      顯微鏡

      -大尺寸機械臺,右手控制

      -反射式LED照明光源

      -5部分組成的旋轉換鏡轉盤

      -USB 2.0 Full HD 相機

      -x40 , NA=0.75

      -60% 透過率 在 360 nm~1000 nm

      光譜儀

      -input f/5

      -焦長200 mm

      -1800 lpmm VPHG grating (for 532 nm excitation)

      -Micrometer for center wavelength adjustment

      -FWHM resolution ~ 0.12 nm

      -DISPersion ~0.038 nm/pixel (16 µm/pixel)

      探測器

      -Andor CCD

       

      應用案例


      WS2拉曼mapping

      WS2拉曼圖譜

       

       

      可選配置
      光纖接口&空間光接口
       

      熒光壽命模塊

      超快單光子計數器 & 計數板卡

      -檢測通道: 2

      -時間分辨率 : 25 ps

      -死時間:  77 ns (typ)

      激發光

      -405 nm空間光路脈沖激發光(穩態熒光)

      -波長: 405 nm

      -Internal rep rate: 31.25 kHz ~ 80 Mhz, CW

       

      光電流模塊

       

      電流源表

      -Keithley 2400

      -配套探針臺

       -側邊放置的探針基座

       -旋鈕式位移控制

      X/Y軸行程13mm,Z軸行程20mm,可彎曲行程10mm

      X/Y軸精度1um,Z軸精度10um

      10fA溢泄電流,1,5mTRX線纜并配接口

      金合金探針,M5BG,0.5x30mm,彎曲型


       



      光偏振控制
       >> Excitation polarization control
      0~180°continuous rotation of excitation laser polarization
      Operating wavelength : 532+/-20nm
      Utilize a zero order half wave plate>>Collection polarizer
      Operating wavelength: 420~700 nm-
      Extinction ratio > 200:1
      Transmission > 83%

      窄帶濾波器 (OD7)
       >>Bandpass filter
      Bandwidth (FWHM) < 0.3 nm
      Diffraction efficiency > 90%
      >>Notch filte
      Blocking > 99.9999% (OD3 + OD3)
      Transmission > 50%
      Bandwidth (FWHM) < 0.5 nm

      激光功率控制
      Variable ND filter (OD 0.04~4)
      Laser power monitor photodiode output (BNC connector)

       
      主要應用:
      生物
      - Cell research / Disease detection / Stents and implants
      - Cosmetics and in vivo skin analysis

      法醫檢測
      -The non-destructive and in-situ identification of controlled drugs and narcotics.

      制藥學, 化妝品和食品學
      -Characterization and Mapping of active pharmaceutical ingredients and excipients

      半導體,太陽能電池和OLED
      -Strain measurements of a Si cap layer deposited on a SiGe substrate determination of Ge content - Defects identification during the manufacturing process
      - Defects identification during the manufacturing process

      固體狀態材料
      - Analysis of Solid State Chemical Reactions and Composite
      - Raman Maps Identify and Located Phases.

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