| 產地類別 | 國產 |
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GHz振動觀察測量系統（基于Sagnac干涉儀）
隨著通訊的增長和工業上各個領域對快速和高質量通訊技術的需求日益增長。特別是持續增長的智能手機和物聯網市場。GHz頻段振動裝置被認為是這部分技術的基礎和重要組成部分例如 叉指換能器（IDT）。但是在快速通訊時代發展的時代，用于檢測和分析GHz頻段分析的設備卻相對比較匱乏，為了充分支持GHz頻段設備的發展我們研發了基于Sagnac 干涉儀的GHz頻段的高頻振動觀察系統。該系統不僅可以進行基本的高頻分析，而且可以探測到在低頻區遺漏的高頻信號。
GHz振動觀察測量系統（基于Sagnac干涉儀）
高頻振動（GHz）觀測系統基于Sagnac干涉儀原理，專門為特殊樣品的高頻振動的可視化而設計的。激光通過Sagnac干涉儀照射到振動樣品上使系統獲得干涉信號，干涉信號和樣品驅動信號都采用鎖相放大器處理。記錄信息和測量位置可轉換為視頻格式，從而使振動分布可視化。
產品特點：
使用激光為探針，實現非接觸測量
Sagnac干涉儀對低頻的靈敏度低，可以不受外部低頻振動影響
自動聚焦校正功能
二維FFT處理，實現濾波功能
應用示例：
產品參數：
Product Model | MLD 101Series |
Measurement Vibration Range | 50MHz-3GHz |
Signal Generator | Supporting 3GHz, +17dBm signal output (2 channel, SMA ports) |
Laser light source | 650 nm (Typ.) Diode Laser |
Single laser spot size | 1 mm with ´100 objective lens |
Microscope | Lens revolver type |
Objective lens selection | ´20 (W.D.: 12mm) ´50 (W.D.: 10.6mm) ´100(W.D.: 3.4mm) ´5 Lens is available for measurement positioning |
Motorized stage | X-Y axis, and focusing |
XY stage motion range | ± 12.5 mm(Typ) with positioning resolution 0.1 mm |
Sample signal interface requirement | SMA connector and base substrate |
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
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